高低溫環(huán)境可靠性測試是產(chǎn)品開發(fā)過程中重要的一環(huán)。在現(xiàn)實(shí)世界中，產(chǎn)品往往會面臨各種溫度條件，如高溫環(huán)境下的電子設(shè)備、低溫環(huán)境下的汽車零部件等。通過進(jìn)行高低溫可靠性測試，企業(yè)可以評估產(chǎn)品在這些條件下的性能和可靠性，從而提前發(fā)現(xiàn)潛在問題并采取相應(yīng)措施。

高溫/低溫的影響：

高溫對產(chǎn)品有很多影響，如老化、氧化、化學(xué)變化、熱擴(kuò)散、電遷移、金屬遷移、熔化、汽化變形等，通常周圍環(huán)境每上升10℃，產(chǎn)品壽命就會減少到四分之一；當(dāng)周圍環(huán)境溫度上升20℃，產(chǎn)品壽命就會減少一半，產(chǎn)品壽命遵循“10℃規(guī)則”，因而高溫試驗(yàn)作為常用的試驗(yàn)，用于元器件和整機(jī)的篩選、老化試驗(yàn)、壽命試驗(yàn)、加速壽命試驗(yàn)，同時(shí)在失效分析的驗(yàn)證上起重要作用。

低溫對產(chǎn)品有很多影響，如脆化、結(jié)冰、粘度增大、固化、機(jī)械強(qiáng)度的降低及物理性收縮等， 低溫試驗(yàn)用于考核產(chǎn)品在低溫環(huán)境下貯存和使用的適應(yīng)性，常用于產(chǎn)品在開發(fā)階段的型式試驗(yàn)、元器件的篩選試驗(yàn)等。

參考標(biāo)準(zhǔn)：

環(huán)境試驗(yàn)方法第二部分：試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn) IEC 60068-2-1:2007

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2 部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A:低溫 GB/T2423.1-2008

裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第4 部分：低溫試驗(yàn) GJB 150.4A-2009

環(huán)境試驗(yàn)方法第二部分：試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn) IEC 60068-2-2:2007

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2 部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B:高溫 GB/T2423.2-2008

裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第3 部分：高溫試驗(yàn) GJB 150.3A-2009

在競爭激烈的市場環(huán)境中，產(chǎn)品質(zhì)量是企業(yè)贏得客戶信任的關(guān)鍵因素之一。產(chǎn)品通過高低溫環(huán)境可靠性測試等測試，企業(yè)可以提供更可靠和穩(wěn)定的產(chǎn)品，從而增強(qiáng)其在市場上的競爭力。